FE-SEMで働き方改革！観察からEDS分析までをハイスループット操作！
公開日： 2019/08/23
電界放出形走査電子顕微鏡において、観察からEDS分析までを短時間で作業可能なハイスループット装置を紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。Webに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2019年9月13日(金) 16:00～16:30
関連製品:
JSM-F100 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
200名
※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
お申し込み方法
- 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e42d1bbfa5784c0873738137fe6701187
WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 588KB)をご覧ください。
初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。
競合他社の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
担当: 廣川（ひろかわ）・嶋田（しまだ）
TEL: 03-6262-3560
動画
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