有機物試料の波形分離方法の基礎 (XPS)

公開日： 2019/12/27

XPSは試料表面の元素分析や化学結合状態分析を行う手法であり、ポリマーの官能基を推定する際にも用いられます。
例えばXPSでポリマー中の炭素をスペクトル測定すると、スペクトルには複数のピークが現れます。これは同じ炭素でも形成する官能基の違いによって異なるエネルギー値を持つためです。XPSではこのようなスペクトルを成分ピークに分離して解析します。

ピーク分離において解析者はデータベースから官能基のピーク位置を調べてパラメータとして設定します。しかし同じ官能基でもポリマーによってはピーク位置が異なる場合があり、解析者はどのピーク位置に設定すべきか悩むこともあります。

そこで今回、様々なポリマーの波形分離結果から官能基ごとにピーク位置がどのような分布を持つか調べました。各官能基についてピーク位置の設定範囲と実際にピーク分離を行うときのコツを紹介します。本セミナーでは、そんな合成高分子の試料調整のノウハウも含め紹介いたします。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社