スマートFP法で働き方改革！標準試料も検量線も必要としないRoHSスクリーニングのご紹介
公開日： 2020/06/23
XRFは、RoHS指令で規制されている有害元素のスクリーニング機器として定着しています。しかし検量線法では、適切な検量線を用いないと定量結果が真値から外れてしまうことが落とし穴となっています。
弊社のXRF「JSX-1000S」は、試料の材質、密度、厚さの影響を自動解析し補正を行うスマートFP法を搭載しています。これにより、高額な標準試料の購入や検量線作成の心配もなく、誰でも簡単に定量分析を行うことができるようになりました。
今回の発表では、検量線を作成するにあたっての注意点についてお話しした後、スマートFP法を活かしたRoHSスクリーニング事例をご紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2020年7月17日 (金) 16:00～16:30
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参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
200名
※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
お申し込み方法
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※WEBセミナー開催当日の午前中までにご参加登録いただいた方のみに事前配布資料をお送りします。それ以降にご参加登録いただいた方はセミナー終了後の配布となりますのでご了承ください。
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お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部
廣川 (ひろかわ)
jeol_event[at]jeol.co.jp
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