X線マイクロCTの基礎と実際
公開日： 2020/06/23
X線CTは、光学顕微鏡や走査電子顕微鏡等による試料表面からの形態観察では把握困難な内部構造を非破壊で可視化できる特長を有しています。
本セミナーでは実際にどのような2D/3Dイメージが得られるのかを中心に基礎的内容と、広領域/部分領域におけるイメージ解析によって得られる材料組織の厚さや欠損状態、粒子径分布、空隙率等についての定量的構造評価の実例を紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2020年8月28日 (金) 16:00～16:30
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参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
200名
※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
お申し込み方法
※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 955KB)をご覧ください。
※WEBセミナー開催当日の午前中までにご参加登録いただいた方のみに事前配布資料をお送りします。それ以降にご参加登録いただいた方はセミナー終了後の配布となりますのでご了承ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部
廣川 (ひろかわ)
jeol_event[at]jeol.co.jp
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動画
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