GC/MS/MS法による塗膜くず中の低濃度PCB分析 ～解析ソフトウェア「TQ-DioK」の紹介～
公開日： 2020/06/29
質量分析計を利用したPCB分析では、多数の異性体を測定対象とするため、解析作業が非常に煩雑になります。
本セミナーでは、GC/MS/MS（JMS-TQ4000GC)を用いた塗膜くず中のPCB分析の事例と併せて、解析ソフトウェア「TQ-DioK」を用いた解析作業の効率化の事例を紹介します。
※ 「TQ」は「Triple Quad」の略称です。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2020年7月20日 (月) 16:00～16:30
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参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
200名
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お申し込み方法
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※WEBセミナー開催当日の午前中までにご参加登録いただいた方のみに事前配布資料をお送りします。それ以降にご参加登録いただいた方はセミナー終了後の配布となりますのでご了承ください。
※競合他社の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部
廣川 (ひろかわ)
jeol_event[at]jeol.co.jp
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