日本電子とリガクが提供する 極微小結晶における電子線単結晶構造解析(MicroED)プラットフォーム

公開日： 2020/11/06

2020年5月25日、日本電子とリガクは『極微小結晶における電子線単結晶構造解析(MicroED)システム』に関する共同開発契約書を締結しました。
リガクの高感度超高速半導体検出器および単結晶構造解析ソフトウェア群と、日本電子の透過型電子顕微鏡を組み合わせることにより、測定から解析までのフローを一体化したMicroEDのトータルソリューションを提供します。
両社のコア技術の相乗効果によって生まれる日本発『電子線単結晶構造解析(MicroED)プラットフォーム』により、最先端の研究の現場で求められているナノメートル・レベルの極微小結晶からの分子構造の解明に貢献します。
今回のワークショップでは、我々が現在開発中のシステムに関する説明だけでなく、実際のサンプルの測定および解析結果を中心にお話しさせていただきます。

共催:　日本電子株式会社・株式会社リガク