JCM-7000を使うとこんなに簡単！電子部品の機械研磨断面を迅速解析します
公開日： 2022/04/18
走査電子顕微鏡 (SEM) で試料の内部構造を観察する前処理法の一つとして、機械研磨による断面作製があります。
機械研磨面は広領域の断面が得られるため、卓上SEM JCM-7000のZeromag機能およびモンタージュ機能が有効です。さらに、EDS (エネルギー分散型X線分光器) を使うと、特定元素の有無および元素分布情報を得ることができます。今回は、JCM-7000を使った電子部品断面の迅速解析手法を紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
"このウェビナーから学べること"
- 電子部品断面の解析手法
- 卓上SEM JCM-7000で簡易測定するための機能紹介とその使い方
- mmオーダー試料に対するSEMでの解析方法
"参加いただきたいお客様"
- 現在卓上SEMをご検討 / 既納している方
- 簡便にSEM観察、EDS分析を使用したい方
- 装置をオープンで使って欲しいと思っている装置管理者
- スクリーニング検査を実施したい方
- 電子部品の断面解析をしている / これから実施される方
- ハイエンド装置のサブ機として使いたい方
講演者
中嶌 香織
EP事業ユニット
EPアプリケーション
SEMグループ
第1チーム
開催日/詳細
- 2022年5月20日 (金) 16:00～17:00
- 講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
- 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
- 無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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