次世代の試料作製ソリューションを搭載した 新型FIB-SEM JIB-PS500iのご紹介
公開日： 2023/02/07
FIB-SEMは、TEM用の試料作製装置として必要不可欠であり広く応用されています。近年ではTEMの高分解能化が進み要求されるTEM試料はより薄く、FIB加工時のダメージが少ないことが必須となってきています。
この度弊社では、"試料作製、観察・分析の最先端へ"をコンセプトに、新しいFIB-SEMシステムをリリースしました。FIB及びSEMの基本性能の向上により、TEMから要求されるダメージレスで高品質な試料作製が可能となったほか、弊社TEMとのリンケージなどの画期的な試料作製ソリューションが搭載され、確実かつ効率的なワークフローで作業いただけるようになりました。
本セミナーでは、半導体試料などを用いたTEM試料作製を例にJIB-PS500iの提供するソリューションをご紹介いたします。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
最新のFIB-SEMシステム
TEM試料作製ソリューション
参加いただきたいお客様
FIBユーザーやFIBをご検討中の方
FIBで試料作製を行っている方
FIB-SEMによるTEM試料作製を向上したい方
講演者
門井 美純
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
FIBグループ
開催日/詳細
2023年3月2日 (木) 16：00～17：00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
発表資料の配布はござません。
参加費
無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「詳細はこちら」をご覧ください。
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お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
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