透過電子顕微鏡を用いたその場観察システム
公開日： 2023/04/05
透過電子顕微鏡 (TEM) を用いたその場観察のニーズが高まっています。すでに所有されているTEMにその場観察システムを導入することも可能になっています。加熱や電圧印加のみならずガス中や液体中でのその場観察が可能で、触媒やメッキ反応過程などがリアルタイムで観察できるシステムを構築することができます。本ウェビナーでは、最新のその場観察システムを用いて、その場観察システムとはどういったものか？その場観察でどのようなデータが取得できるか？について紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
現有の透過電子顕微鏡を用いたその場観察システムの導入について
最新のその場観察システムの紹介
その場観察システムを用いた観察例
参加いただきたいお客様
透過電子顕微要をお持ちでこれからその場観察を行ってみたいというユーザー
その場観察にはどういった観察例があるか知りたいユーザー
講演者
福永 啓一
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
開催日/詳細
2023年5月19日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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