表面分析装置 (AES) におけるコンタミネーションを防ぐ試料の取り扱いと分析時の注意点
公開日： 2023/06/22
表面分析装置 (AES) における分析時の注意点と共に、具体的にコンタミネーションを防ぐ試料の取り扱い方法について紹介します。また実際に表面分析を担っている分析者に対して、分析時のダメージ評価や分析時の簡便なクロスチェックの方法など、実用的な手法を交えながら、信頼性が高く正確なデータ取得が行えるようになることを目指した解説を行います。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
表面分析装置 (AES) の試料の取り扱い
オージェ分析用の試料前処理方法
分析時のダメージを制御して、より正確な表面分析データが取得できる
参加いただきたいお客様
普段よりAESやXPSといった表面分析を担っている分析者
表面分析の初心者の方
講演者
堤 建一
SA事業ユニット
SA技術開発部
開催日/詳細
2023年10月20日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
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日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
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