XPSを用いたポリマー試料の波形分離計算時のパラメータの決め方
公開日： 2023/12/04
X 線光電子分光法では、ポリマー試料の化学結合状態分析時に波形分離計算により官能基の同定、定量を行う。その際、バックグラウンドを除去したスペクトルに対してピーク位置、ピーク幅などのパラメータを設定する必要がある。それらのパラメータ値の目安を知るため、ポリマー試料を測定したデータベースよりピーク位置、ピーク幅のパラメータ値をまとめた。それにより、官能基ごとにパラメータの分布を確認できたため結果を紹介する。
このウェビナーから学べること
ポリマーの化学結合状態分析を行う手法
ポリマー試料の波形分離計算時に設定するピーク位置などのパラメータの分布
XPSの波形分離を行うときのコツ
参加いただきたいお客様
XPSを用いてポリマー試料の化学結合状態分析を行いたい方
XPSの波形分離計算でお困りの方
IRなどを用いてポリマー試料の解析を行っている方
講演者
村谷 直紀
SA事業ユニット
SA技術開発3G
開催日/詳細
2024年1月26日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
お申し込み方法
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お問い合わせ
日本電子株式会社
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sales1[at]jeol.co.jp
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