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XPSを用いたポリマー試料の波形分離計算時のパラメータの決め方

公開日: 2023/12/04

X 線光電子分光法では、ポリマー試料の化学結合状態分析時に波形分離計算により官能基の同定、定量を行う。その際、バックグラウンドを除去したスペクトルに対してピーク位置、ピーク幅などのパラメータを設定する必要がある。それらのパラメータ値の目安を知るため、ポリマー試料を測定したデータベースよりピーク位置、ピーク幅のパラメータ値をまとめた。それにより、官能基ごとにパラメータの分布を確認できたため結果を紹介する。

このウェビナーから学べること

  • ポリマーの化学結合状態分析を行う手法

  • ポリマー試料の波形分離計算時に設定するピーク位置などのパラメータの分布

  • XPSの波形分離を行うときのコツ

参加いただきたいお客様

  • XPSを用いてポリマー試料の化学結合状態分析を行いたい方

  • XPSの波形分離計算でお困りの方

  • IRなどを用いてポリマー試料の解析を行っている方

講演者

村谷 直紀

SA事業ユニット
SA技術開発3G

開催日/詳細

  • 2024年1月26日 (金) 16:00~17:00

  • 講演後に質疑応答の時間があります。

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発表資料

講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

  • 登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。

  • ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「詳細はこちら」をご覧ください。

  • 競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp

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