走査電子顕微鏡 (SEM) 基礎講座

公開日： 2024/04/01

定員になりました。またのご案内をお待ちください。

この度「走査電子顕微鏡 (SEM) 基礎講座」を開催することになりました。
前半はSEM/EDSを上手に使うための講義、後半は最新型の走査電子顕微鏡実機を利用した実習になります。
みなさまのご参加をお待ちしております。

主催：日本電子株式会社大阪支店

開催日/会場

日程：
2024年6月21日(金)10時～（受付は09：45～）

会場：
日本電子株式会社西日本ソリューションセンター
〒532-0011大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1F 地図

JR「新大阪」駅正面口徒歩5分
地下鉄御堂筋線「新大阪」駅南口（7番出口）徒歩2分

対象者:
タングステンタイプの走査電子顕微鏡をご利用のお客様

参加費:
無料

定員:
7名　(先着順)

09:45	受付
10:00	講義　SEMの上手な使い方 SEMで得られる情報帯電と低真空モードより良いSEM像を得るために「観察条件の設定」試料のマウント方法
	講義　EDSの上手な使い方 SEMによる元素分析 EDSでできること分析条件の設定「SEM/EDSの条件設定」・「試料の注意点」分析の注意点
12:00	休憩
13:00	実習　SEM、EDSの実機を使った実習 ※実習装置　JSM-IT510LA　分析走査電子顕微鏡
16:00	終了

※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
※ 昼食は近隣の飲食店をご利用ください。
※ 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。

定員になりました。またのご案内をお待ちください。

日本電子株式会社大阪支店
TEL 06-6304-3942