結晶方位解析をもっと身近に！汎用SEMで始めるEBSD測定
公開日： 2024/11/14
材料の特性を理解するためには、結晶の方位や歪みの解析が重要です。従来、EBSD測定には主にショットキー電子銃を搭載したSEMが使用されてきましたが、EBSD測定のターゲットとなる結晶の粒径はミクロンオーダーが多く、汎用SEMでも十分な測定が可能です。本セミナーでは、結晶方位解析の導入を検討している方に向けて、汎用SEMと専用の小型EBSD検出器を組み合わせた測定例をご紹介します。また、EBSD測定に適した試料前処理についても解説します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
汎用SEMを用いた結晶方位解析について
EBSDの測定例
EBSDの前処理手法
参加いただきたいお客様
EBSD測定をこれから始められる方
ミクロンオーダーのEBSD測定を行っている方
スクリーニング用にSEM-EBSDの増設を検討される方
講演者
石野 真友
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMグループ
第1チーム
開催日/詳細
2024年12月13日 (金) 16:00 ～ 17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「詳細はこちら」をご覧ください。
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お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
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