FIB-SEM JIB-PS500iの紹介 ～TEM試料作製から三次元測定まで～
公開日： 2025/02/08
局所的な微細構造解析には高分解能観察が可能なTEMが有効ですが、広視野での三次元解析にはFIB-SEMが適しています。JIB-PS500iは、半導体デバイスなどの微細構造を持つ試料に対して、高品質なTEM試料作製とナノスケールでの三次元解析を提供できる高性能FIB-SEMです。また、非曝露搬送機構を備えており、大気と反応しやすい試料の加工と観察にも効果的です。本講演では、JIB-PS500iの多彩な特長とそのアプリケーションについてご紹介します。なお、本ウェビナーは、2024年に開催された第17回SEMユーザーズミーティング内でのJIB-PS500iに関する発表と同じ内容となります。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
JIB-PS500iの特徴
JIB-PS500iのTEM試料作製ソリューション
JIB-PS500iによる三次元分析システム
参加いただきたいお客様
SEMやTEM用試料作製に興味がある方
FIBに興味のある方
微細試料の3次元分析に興味のある方
講演者
中島 雄平
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
開催日/詳細
2025年3月18日 (火) 16:00 ～ 17:00
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画
後日講演録画を掲載します。掲載の際は弊社電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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