JEOLがおくるArray tomographyの新情報

超薄切片試料をSEMで撮影する際の基礎知識や、Array Suppporterの時短機能について紹介します。

本セミナーは好評いただきました、2025年1月17日 (金)開催「JEOLがおくるArray tomographyの新情報」のアンコール開催です。講演内容は前回と同じです。
講演後はご質問もお受けいたしますので、お困りのことや疑問に思っていることなどありましたら、お気軽にご参加ください。

WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

• 超薄切片試料をSEMで観察する際の基礎知識

• Array tomographyに関する基礎知識

• Array tomographyの時短テクニック

参加いただきたいお客様

• 生物試料を観察されている方

• Array tomographyに興味をお持ちの方

• Volume EMに興味をお持ちの方

開催日/詳細

• 2025年3月25日 (火) 16:00 ～ 17:00

• 講演後に質疑応答の時間があります。

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参加費

無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

発表資料

講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

講演録画

後日講演録画を掲載します。掲載の際は弊社電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。

プログラム

時間	題名 要旨	講演者
16：00～16：25	Array tomographyのための基礎知識 ～超薄切片試料のSEM像とTEM像の比較～ Array tomographyではウエハ上にマウントした超薄切片を、SEMを用いて撮影を行います。SEMを用いてTEMライクな画像を取得するにあたっての基礎知識として、SEM像とTEM像の像形成の原理や実際の見え方の違いについて紹介します。	日本電子株式会社 ソリューション開発センター ソリューション企画室 春田 知洋
16：25～16：50	SEM array tomographyを用いた大容量データ取得の高効率化 SEM array tomograpyは、組織全体の広い領域を細胞小器官が観察可能な高い分解能で3次元解析が可能です。そのため、1000枚を超えるような切片の大容量データの取得を行うことがあります。SEM array tomograpyの連続切片自動観察用に開発されたソフトウェア「Array Tomography Supporter」を用いて、短時間に、効率よくデータ取得を行った例を紹介します。	日本電子株式会社 ソリューション開発センター ソリューション企画室 鈴木 克之
16：50～	質疑応答

※プログラムは予告なく変更になる場合がございます。あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

• 登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。

• ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「詳細はこちら」をご覧ください。

• 競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp

• [at]は＠に、ご変更ください。