MEMSチップを使ったTEMその場観察の最新情報
公開日： 2025/06/03
透過電子顕微鏡(TEM)においてその場観察のニーズが高まっています。今回ご紹介するその場観察システムは、すでに所有されているTEMに導入することが可能です。加熱や電圧印加のみならずガス中や液体中でのその場観察が可能となっており、触媒粒子の動きやメッキ反応過程などがリアルタイムで観察できるシステムを構築することができます。本ウェビナーでは、その場観察システムとはどういったものか？その場観察でどのようなデータが取得できるか？についてご紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
既設のTEMでその場観察を導入するための方法
その場観察の（加熱、電圧印加、ガス環境、液中での）方法
参加いただきたいお客様
TEMでその場観察を行ってみたい方
既設のTEMを用いて付加価値をつけた観察が行えないか探索・検討されている方
講演者
福永 啓一
日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
開催日
2025年7月4日 (金) 16:00 ～ 17:00
関連製品
講演録画
後日講演録画を掲載します。掲載の際は弊社電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。
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お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
