統合分析プラットフォーム“FEMTUS™”を用いた多角的な観察

公開日： 2025/07/17

透過型電子顕微鏡に様々なアタッチメントを追加いただくことで、試料の微細構造のみならず、組成や化学状態など様々なデータが取得できるようになります。今回ご紹介する、統合分析プラットフォーム“FEMTUS™”を導入していただくことにより、従来、EDSやEELSなどアタッチメント毎での制御ソフトウエアが不要となり、非常に洗練された1つのウインドウー内で測定の条件設定～データ取得が可能となります。さらに、異なるアタッチメントでの同時データ取得やアタッチメント毎のメタデータの同期も容易となっており、データ収集後のオペレータの負担が軽減されます。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

FEMTUSに関する情報
FEMTUSを使った観察・分析の流れ
FEMTUSに追加された新しい機能の紹介

参加いただきたいお客様

透過電子顕微鏡をお使いの方
透過電子顕微鏡に興味のある方

関連製品

透過電子顕微鏡 (TEM)

講演者	小井沼　厳日本電子株式会社 SI事業部門 EM事業ユニット EMアプリケーション部
開催日	2025年8月22日(金) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画	後日講演録画を過去の動画(ウェビナー一覧)ページに掲載します。掲載の際はメールマガジンやSNSにてご案内をいたしますので登録/フォローをお願いします。
お問い合せ	日本電子株式会社デマンド推進本部ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。