試料変質を軽減！～冷却ステージを用いたFE-SEM観察と分析～

公開日： 2025/09/03

走査電子顕微鏡 (SEM) は半導体、バイオ、電子部品、金属、高分子やそれらの複合材料など多岐にわたる材料に対し、研究開発や品質保証などの幅広い用途で用いられています。一方で、需要の高まっているソフトマテリアルや電池材料など、電子線照射に敏感な試料の安定的な観察や分析が課題となっています。本セミナーではこの課題のソリューションの一つとして試料冷却法を取り上げ、試料冷却ステージを搭載したSEMシステムの概要や、観察や分析などの応用事例について紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

観察および分析時の電子線照射による試料への影響
試料冷却ステージのシステムについて
試料冷却を用いた観察および分析の応用例

参加いただきたいお客様

高分子材料の研究、開発をされている方
電池材料の分析をされている方
電子線照射に敏感な試料を扱われている方

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講演者	山本康晶日本電子株式会社 SI事業部門 EP事業ユニット EPアプリケーション部
開催日	2025年10月7日(火) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画	後日講演録画を過去の動画(ウェビナー一覧)ページに掲載します。掲載の際はメールマガジンやSNSにてご案内をいたしますので登録/フォローをお願いします。
質疑応答	講演終了後に質疑応答の時間を設けています。ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。
お問い合せ	日本電子株式会社デマンド推進本部ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。