日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ
SEM / EBSD / ナノインデンター ジョイントウェビナー 2025
公開日: 2025/10/06
共催:日本電子株式会社
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
恒例となりましたジョイントセミナーは、今年度ウェビナーにて開催させていただくことになりました。
今回はオックスフォード・インストゥルメンツが新たに販売を始めたSEM用ナノインデンターを軸にナノインデンターのご紹介・解析例、ナノインデンターを使用するためのJEOL SEMのご紹介、ナノインデンターとEBSDのデータ相互性などをご紹介いたします。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
開催日 |
2025年11月11日(火) 15:30~17:00 |
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参加費 |
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。) |
発表資料 |
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。 |
講演録画 |
後日講演録画を過去の動画(ウェビナー一覧)ページに掲載します。
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質疑応答 |
講演終了後の質疑応答は行いません。 |
お問い合せ |
日本電子株式会社
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プログラム
時間 | 題名 要旨 |
講演者 |
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15:30~16:00 |
高性能&ハイスループットSEM ~JSM-IT510/710HR/810シリーズのご紹介~ 走査電子顕微鏡 (SEM)は、試料表面の微細構造をμm~nmスケールで観察・分析できる装置として、材料科学、半導体、ライフサイエンスなど、幅広い分野で活用されています。中でも、JSM-IT510/710HR/810シリーズは、①ナノインデンターシステムが搭載可能な大型試料室による高い拡張性、②優れた操作性、③高分解能・高スループット、という特長を備え、研究開発から品質管理まで多様なニーズに応えます。 本講演では、特にユーザーの皆様から高評価を得ている操作性と拡張性に焦点を当て、JSM-IT510/710HR/810シリーズの魅力をご紹介します。 |
日本電子株式会社 SI営業本部 SI販売促進室 中嶌 香織 ![]() |
16:00-16:30 |
SEM用ナノインデンターFT-NMT04のご紹介 オックスフォード・インストゥルメンツは新たにSEM用ナノインデンターの販売を開始しました。 FT-NMT04はスイスのFemtoToolsにより特許取得されたマイクロエレクトロメカニカルシステム (MEMS) 技術により比類のない解像度、再現性、動的安定性を備えています。これにより従来では不可能であった高速ナノインデンテーションによるメカニカルマッピング分析が可能になっています。 本講演ではFT-NMT04の様々な解析事例をご紹介します。 |
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 イメージングアンドアナリシス事業本部 村田 泰斗 ![]() |
16:30~17:00 |
ナノインデンターとEBSDのデータ相互性 EBSDは電子線がサンプルにより回折されてできた菊池パターンを使用して様々な結晶情報を取得する分析システムです。 ナノインデンターにより得られる硬さ情報とEBSDにより得られる結晶情報(方位、結晶粒界など)を組み合わせることで最先端の材料開発が可能になります。 本講演ではEBSDシステムをご紹介した後、ナノインデンターとEBSDによるデータ相互性をご説明します。 |
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 イメージングアンドアナリシス事業本部 中島 里絵 ![]() |
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
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登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
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ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。
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