vEMセミナー ～これからはじめるアレイトモグラフィー～
(開催地：大阪)
公開日： 2025/11/11
近年、電子顕微鏡を用いて3次元観察を行うボリュームEM(vEM)と呼ばれる技術が注目を浴びています。日本電子ではvEM観察に対応した装置群やアプリケーションを提供しています。今回は、その中でもSEMを用いた連続切片法（Array tomography）について、概論から試料作製、装置操作、3次元構築まで装置実機を用いた実演を踏まえて説明します。
なお、本セミナーでは樹脂包埋した生物試料を用いた講習を行います。
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開催日 |
2026年1月23日(金) 13:00～16:20 (受付開始 12:30～) |
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会場 |
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター（WSC） |
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参加費 |
無料 |
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定員 |
10名 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。) |
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お問い合せ |
日本電子株式会社
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講演/実演内容
当日はアレイトモグラフィーについて以下の内容をご案内いたします
染色方法
連続切片作製（実演）
SEMによるデータ取得（実演）
スタッカー説明：再構成ソフト"Stack N Viz"による再構成
ご参加いただきたいお客様
アレイトモグラフィーに興味があり、これから始めてみたいSEMユーザー
タイムテーブル
| 時間 | 講演/実演内容 |
|---|---|
| 13：00～14：00 |
講演1 連続切片法（アレイトモグラフィ）の紹介 アレイトモグラフィ法のワークフローは大きく、連続切片サンプルの作製、連続切片サンプルの観察、連続撮像データの3次元解析の3つに分けられます。ここでは、それぞれのワークフローについて解説させていただきます。 |
| 14：00～14：40 |
実演1 ウルトラミクロトームを用いた連続切片作製 アレイトモグラフィ法は基本的にSEMさえあればできる導入コストの低さでも優秀な解析手法ですが、 一方で試料作製法は煩雑で苦労されているお客様も多いと思います。 ここでは、実際にウルトラミクロトームを用いて連続切片を作製のフローを見ていただきながら、連続切片を作製する際のコツやノウハウについて紹介します。 |
| 14：40～15：00 |
休憩 |
| 15：00～15：30 |
実演2 卓上SEM JCM-7000を用いた連続切片自動観察 「Array Tomography Supporter」は、アレイトモグラフィの連続切片自動観察専用に開発されたソフトウェアです。 ユーザーフレンドリーなGUI上で、「観察位置の指定」が簡単にでき、指定した箇所を自動観察することができます。 ここでは、卓上SEM JCM-7000を用いて実際に「Array Tomography Supporter」の動作を見ていただきます。 |
| 15：30～16：00 |
講演2 システムインフロンティア社が提供するArray Tomography関連ソフトウェアの紹介 システムインフロンティア (SIF) 社製ソフトウェア "Stack n Viz" および "Colorist" について紹介します。"Stack n Viz"は、"Stacker"と"Visualiser"によって構成されています。 "Stacker"ではアライメント（位置合わせ）、関心領域の選択などを行い、再構成データを作成します。 "Visualiser"は再構成データの専用のビューワになります。"Colorist"は観察対象となる構造体のセグメンテーションを行うことができます。 本セミナーではこれらのSIF社製のArray tomography関連ソフトの使い方や特徴について説明します。 |
| 16：00～16：20 |
質疑応答 |
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
こちらのセミナーは先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
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