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第19回 TEMユーザーズミーティング

公開日: 2026/04/07

本年のTEMユーザーズミーティングは例年同様、外部講演の先生方を含め、さまざまな分野を網羅した新技術情報や実践的技術情報の発表を企画しています。また、会場ではポスター展示や装置紹介コーナー設置を予定しております。

さらに、TEMに関するお悩みやご相談を弊社アプリケーション担当者に直接お話しいただける「よろず相談コーナー」も予定しております。こちらでは日頃のお悩みなどをご相談いただけます。

講演終了後には懇親会を予定しておりますので、ユーザーの皆様と弊社スタッフの情報交換の場として有意義にご歓談いただければ幸いです。ご多忙の折とは存じますが、皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

開催日

2026年10月16日(金)

会場

浅草橋ヒューリックホール
〒111-0053 東京都台東区浅草橋1-22-16 ヒューリック浅草橋ビル2階
アクセスマップ

参加費

無料

申し込み締切

2026年10月13日(火)

ご連絡

  • ご来場の際、受付で名刺を1枚頂戴いたします。お手数ですが、事前にご用意をお願いいたします。

  • 昼食はお弁当のご用意があります。

  • キャンセルまたは参加者変更の場合、日本電子ユーザーズミーティング事務局までご連絡をお願いいたします。

  • 講演終了後の配布資料のダウンロードおよびWEBサイトへの発表動画の掲載は行いません。

  • 同業他社様、代理店様の方々のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お申し込み

下記よりお申し込みください。

  • ページ下部に同様のお申し込みフォームがございます。どちらのフォームからでもお申し込みいただけます。

お問い合せ

日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
jeolum[at]jeol.co.jp

  • [at]は@に、ご変更ください。

  • こちらのメールアドレスはお問い合わせ専用です。登録お申し込みの受付先ではありませんのでご注意ください。

プログラム

時間 題名
要旨
講演者
9:30~ 受付
10:00~10:10 開会挨拶
10:10~10:30

最新のクライオTEM「CRYO ARM™ 300Sおよび200S」のご紹介

クライオ電子顕微鏡は近年、高分解能化と高スループット化が進展しています。
本発表では、新たに開発されたCRYO ARM™ 300Sおよび200Sに関する技術革新に加え、AIを活用した自動化ワークフローやCryo-FIBを含む試料調製技術との統合について紹介します。
これらの進展により、試料作製から構造解析までの一連のプロセスが効率化され、生命科学研究への応用拡大が期待されます。

日本電子株式会社
SI事業部門 EM事業ユニット
EM第2技術開発部 細木 直樹
10:30~11:10

mRNAワクチンを支えるLNP製剤の構造理解に向けたCryo-TEM解析の活用

脂質ナノ粒子(LNP)は、COVID-19 mRNAワクチンにも活用され、核酸医薬の送達技術として大きな注目を集めています。一方で、LNP製剤では粒子径や封入率だけでなく、粒子形態、内部構造、核酸分布などの不均一性を理解することが品質評価・処方設計に重要です。本発表では、Cryo-TEMによるLNPの直接観察を通じて、空粒子、核酸含有粒子、多層構造、bleb様構造などを評価した事例を紹介し、一粒子レベルの構造情報の有用性を概説します。

千葉大学大学院薬学研究院
植田 圭祐 先生
11:10~11:30

Cryo-FIB-SEM CryoLamellerの特徴とCLEMを用いた標的部位薄片作製

CryoLamellerは、Cryo-TEM用薄片作製に特化したCryo-FIB-SEMです。CRYOARM用カートリッジに対応しており、薄片作製後などの装置間搬送時に液体窒素中でTEMグリッドを直接取り扱う必要がなく、簡便かつ安全なワークフローを実現します。さらに、試料室内蔵の蛍光顕微鏡により、SEMコントラストだけでは特定が困難な細胞内構造を標的とした薄片作製が可能です。

日本電子株式会社
SI事業部門 EP事業ユニット
EP技術開発 水野 議覚
11:30~12:10

機能性薄膜材料の界面解析による接合メカニズムの解明と実製品への展開
~ソリューション対応からブレイクスルーを生み出す~

当社は多種多様な機能性材料を開発・製造・販売していますが、実務の不良解析案件が新製品開発に繋がった事例を紹介します。電子顕微鏡観察を中心に、構造解析や表面分析などの複合解析から現状を把握し仮説を立てたことが、ソリューションを導く契機となりました。分析部門が製造部門と協働して目的を明確にし、仮説からメカニズムを解明するプロセスが技術革新(ブレイクスルー)に繋がり、大きな成果を得たのでご紹介します。

三井金属株式会社
基礎評価研究所
和田 充弘 様
12:10~12:40

昼食

12:40~13:40

ポスター展示・リモートデモ・よろず相談

13:40~14:10

新型Csコレクターを搭載した透過電子顕微鏡の製品紹介と応用

近年の収差補正器を搭載した透過電子顕微鏡は非常に広いRonchigramのフラット領域を有しており、XY方向の空間分解能は数十pmオーダーまで達しています。特に最新の収差補正器ではフラット領域が80 mrad以上に達しており、STEMにおいて大収束角プローブの形成が可能となります。これにより、XY方向の空間分解能向上に加え、焦点深度の減少によるZ方向分解能の向上、さらに大電流プローブによるハイスループット分析など、様々な恩恵が得られます。本発表では製品紹介とともに、新型Csコレクターによる応用例も紹介いたします。

日本電子株式会社
SI事業部門 EM事業ユニット
EMアプリケーション部 橋口 裕樹
14:10~14:50

微分位相コントラストSTEM法を用いた強誘電ドメイン壁における局所電荷分布解析

微分位相コントラストSTEM(DPC-STEM)法は、試料中の局所電磁場構造を高空間分解能で可視化できる手法です。ただし、DPC-STEM法を強誘電体材料に活用する場合、強誘電ドメインや回折に由来した信号が電場信号に重畳し、定量的な電場構造解析の妨げとなります。そこで本研究では、これらの解析の妨げとなる信号を抑える手法を検討し、強誘電ドメイン壁における定量電場観察と観察結果からの電荷分布評価を行いましたので、その結果について紹介します。

株式会社村田製作所
髙本 昌弥 様
14:50~15:30

休憩/ポスター展示・リモートデモ・よろず相談

15:30~16:20

質量分析計搭載反応科学超高圧電子顕微鏡によるマルチモーダル・オペランド触媒反応計測システム開発とその応用

「計測」の将来トレンドとしてのキーワードとしてマルチスケール、マルチモーダル、オペランドは間違いなく主要なものとなります。名古屋大学超高圧電子顕微鏡施設における世界で唯一の差動排気型ガス環境セルを有する超高圧電子顕微鏡JEM-1000k RSは、この構想の下、金属微粒子触媒を対象として開発されました。本講演では、その開発思想、機能、データ解析プラットフォームについて紹介し、自動車排気ガス浄化触媒に関する最近の応用事例を通じてその利点と欠点、将来に向けたこの分野へのビジョンを述べます。

名古屋大学 /日本電子株式会社顧問
武藤 俊介 先生
16:20~16:30 閉会挨拶
16:30~17:30 懇親会/ポスター展示・リモートデモ・よろず相談
  • プログラムは予告無く変更させていただく場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

  • こちらのフォームからお申込み出来ない場合、恐れ入りますが問い合わせ先のユーザーズミーティング事務局までご連絡ください。

  • 申し込みは先着順になります。お早目にお申し込みください。

  • 同業他社様、代理店様のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承下さい。

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