SiN window chipを用いた光‐電子相関顕微鏡法(CLEM)に関する論文が「Microscopy誌」に掲載されました

公開日： 2019/01/18

当社が開発しましたSiN window chipを用いた光‐電子相関顕微鏡法(CLEM)に関する論文が「Microscopy誌」に掲載されましたので、 お知らせします。

"Development of novel correlative light and electron microscopy linkage system using silicon nitride film"
T.Haruta, Y.Ikeda, Y.Konyuba, T.Fukuda, H. Nishioka DOI 10.1093/jmicro/dfy145

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https://academic.oup.com/jmicro/advance-article-abstract/doi/10.1093/jmicro/dfy145/5272730?redirectedFrom=fulltext