東京理科大学と当社の共同研究が「Applied Physics Express」誌に掲載されました

公開日： 2019/12/13

東京理科大学総合研究院ナノカーボン研究部門と日本電子株式会社は共同研究を行い、走査型オージェ電子分光装置(JAMP-9510F)に搭載された電子分光器を反射電子像形成のエネルギーフィルターとして用いることで、グラフェンの層数を精密に画像化することに成功しました。

本成果は「Applied Physics Express」誌に掲載されました。
"Determination of absolute number of graphene layers on nickel substrate with scanning Auger microprobe"
Appl. Phys. Express 13 015502 
https://doi.org/10.7567/1882-0786/ab5743