関東学院大学および日本電子の共同研究論文が、学術誌「Transactions of the IMF」に掲載されました
公開日： 2026/04/10
本論文では、無電解 Ni-P 膜のノジュールが、表面の微小突起を起点として発生することを、SEM（走査電子顕微鏡）、FIB（集束イオンビーム）、TEM（透過電子顕微鏡）などを用いて明らかにしました。本結果により、前処理において突起形成を抑制することが、ノジュールの抑制および Pd 使用量低減につながる可能性を示しました。
本共同研究は、関東学院大学が主導的な立場で推進しました。
