JMS-T200GC AccuTOF GCx 高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計高分解能・高質量精度・高感度・高速データ取得を同時に実現した、新時代の飛行時間型質量分析計

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特長 STRONG POINT

JMS-T200GC AccuTOF GCx 高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計
AccuTOF™ GC シリーズの第4世代機種はさらに性能アップしてAccuTOF™ GCx へと進化!
より幅広い分野で分析ソリューションを提供します
高分解能・高質量精度・高感度・高速データ取得を同時に実現した、新時代の飛行時間型質量分析計です

信頼性の高い組成推定

高分解能、高質量精度により、信頼性の高い組成推定が可能です。
このため、未知化合物や不純物の定性分析に優れています。

高分解能

高質量精度 (濃度差のある測定試料)

長時間における安定性

高感度

オクタフルオロナフタレン(OFN) 100 fgをEI法で連続8回測定した際のEIC (m/z 271.9867) ピーク面積の繰返し精度をもとに、一定の信頼度を仮定して統計的に算出した装置検出下限 (IDL) は16 fgでした。
CV: 相対標準偏差 IDL: 装置検出下限

広い質量範囲

Direct TOFMS でオリゴマーも測定可能

AccuTOF™ GCx は広い測定質量範囲を有しており、またGC を介さない種々の直接導入法を備えているため、GCでは導入できない分子量の大きな試料の測定が可能です。

多彩なイオン化法と試料導入法

FI法とFD法:分子量確認に最適なソフトイオン化法

FI/FD 法はEI 法やCI 法に比べて分子イオンの内部エネルギーが少ないイオン化法です。
フラグメンテーションが起こりにくいソフトなイオン化法のため、分子量確認に最適です。

FI(Field Ionization:電界イオン化)法

  • 試料をGC や標準試料導入部を介してイオン源に導入できます。
  • CI法は、測定対象化合物により試薬ガス種を選択する必要がありますが、FI 法では不要です。

フラグメンテーションし易いフッ素系化合物においても、分子イオンが検出されました。

FD(Field Desorption:電界脱離)法

  • 試料をエミッター上に塗布し直接導入します。
  • 熱不安定化合物分析に適しています。
  • 非極性溶媒に可溶な試料に適しています。
  • 溶媒に分散可能な粉末試料でも測定可能です。
  • 低~中極性の金属錯体が測定可能です。
  • GC/MS では測定不可能なポリマーなどの高分子量試料が測定可能です。

難揮発性のイオン液体においても、迅速に分子量情報が得られました。

EI/FI/FD 共用イオン源(オプション)

JEOL独自のEI/FI/FD 共用イオン源は、イオン源の交換なしにGC/EI、GC/FI、FD測定を可能にします。真空解除によるダウンタイムのない生産性の高い分析を支援します。

直接導入法

用途に応じた2 種類の直接導入プローブ
イオン化法は、EI とCI が選択可能です。

DEP (Direct Exposure Probe)

  • 高沸点化合物 / 熱不安定化合物に最適です。
  • 溶媒に溶かした試料を先端のフィラメントに塗布します。

DIP (Direct Insertion Probe)

  • 高沸点化合物 / 溶媒に溶けにくい試料に最適です。
  • 固体試料をそのまま専用ガラス試料管に導入して測定可能です。

EI法とFI法を組合せた定性分析

EIマススペクトルから、ライブラリ検索を行えます。また、フラグメントイオンの組成推定から、構造情報も得られます。一方、FI法では、検出された分子イオンから、分子量と分子組成の推定が行えます。これらEI法とFI法からの情報を組み合わせることで、ライブラリ検索のみに頼らない、確度の高い定性分析が可能になります。不純物などの未知成分の定性分析に威力を発揮します。

仕様 SPEC

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