JSPM-5200 走査形プローブ顕微鏡 ** この製品は販売を終了しています **

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特長 STRONG POINT

JSPM-5200 走査形プローブ顕微鏡

走査形プローブ顕微鏡 (SPM) は、非常に鋭い探針で試料表面を走査し、高分解能で表面形状や表面の物理特性を観察する顕微鏡です。
近年のナノテクノロジーの発展の中、様々な分野で SPM が活用されています。
JSPM-5200 は SPM の特長を最大に生かします。

原子 ・ 分子像観察可能な高分解能

様々な顕微鏡と比較して、走査形プローブ顕微鏡は高い分解能を有します。
高性能のTEM に並ぶ面分解能と他では得られない垂直分解能を有しています。
SEMで観察できないような、微細構造まで試料処理を行うことなく、簡単に観察を行うことができます。

  • 空気式除振台とゲルダンパーによる 2 重の除振構造
    設置環境によらず原子 ・ 分子レベルの高分解能を保証した装置です。
  • 選べる 3 つの AFM モード
    コンタクトモード、AC モード、ノンコンタクトモードが標準装備されていますので、試料や目的にあわせて自由に選択できます。
  • ノンコンタクトモードを標準装備
    探針先端を試料表面に接触させることなく、非接触で高分解能観察を実現します。

試料表面の物理量の観察・測定が可能

走査形プローブ顕微鏡は試料表面の形状観察にとどまらず、種々の物理量の測定に利用されています。

  • 多彩な測定モード
    摩擦像、位相像などの標準測定に加えて、オプションを追加することによって、表面電位、磁気像、粘弾性像など数多くの測定モードをカバーします。

動作環境を選ばない

走査形プローブ顕微鏡は動作環境を選ばず、大気中 ・ 真空中 ・ ガス雰囲気中 ・ 液中での使用が可能です。

  • 環境制御 SPM
    大気圧 SPM を発展させ真空中、ガス雰囲気中の観察まで可能な環境制御型 SPM です。
  • 使い勝手が変わらない
    真空中、試料の加熱 ・ 冷却までオプションを取り付けても、大気中での使い勝手が悪くなりません。全ての環境において使いやすい SPM です。

手軽に簡単測定

試料をセットしてすぐに観察が行えます。

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仕様 SPEC

分解能
AFM 原子分解能 (Contact Mode 時マイカ原子像)
STM 原子分解能 (HOPG 原子像)  
システムドリフト量 0.05nm/s以下 ドリフトフリーステージ
測定モード (AFM)
コンタクトモード
 凹凸像、フォース像
 フォースカーブ、フリクションフォースカーブ
 l-V,CITS,コンタクト電流像、SPS マッピング
ACモード
 凹凸像、位相像、振幅像、Point by Point MFM
ノンコンタクトモード (FM モード)
 凹凸像、周波数像
測定モード (STM)
STMモード
 凹凸像、電流像、CITS,
 l-V,S-V,l-S
走査範囲
X,Y 0~20µm (標準スキャナ)
  分解能 25bit (オフセット含む)
Z 0~3µm (標準スキャナ)
  分解能 21bit (×32 ゲイン時)
チューブ形スキャナ使用 (交換可能)  
試料サイズ 最大50mm×50mm×5mmt

注) カンチレバーは付属しておりませんので発注時にご相談下さい。

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