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特長 STRONG POINT

miXcroscopy™ 光学顕微鏡/走査電子顕微鏡リンクシステム
光学顕微鏡と走査電子顕微鏡の試料ホルダを共通化し、ステージ情報を専用のソフトウェアで管理することにより、光学顕微鏡で観察した箇所をシステムに記憶させ、同一視野を走査電子顕微鏡でさらに拡大して微細構造観察ができるようになりました。
光学顕微鏡で観察ターゲットを見逃すことなく、シームレスに走査電子顕微鏡で観察することが可能となり、光学顕微鏡像と走査電子顕微鏡像との比較検証がよりスムーズで容易にできるようになりました。

システムの概要

対応機種
走査電子顕微鏡:JSM-7800FPRIMEJSM-7800FJSM-7610FJSM-7200F、JSM-7100F
電子プローブマイクロアナライザ:JXA-8230JXA-8530F

色情報を付加したより直観的な観察・データ取得

SEM観察では得られない光学顕微鏡の色情報をSEM像に付加することで、より直感的な視覚効果を与えることができます。

光学顕微鏡の特長を生かしたスムーズな位置同定

光学顕微鏡で観察することで、SEM観察では認識しづらい構造の位置同定をスムーズに行うことができます。

電子線による試料へのダメージを防止

電子線による損傷やコンタミを防ぐために、光学顕微鏡で観察位置の同定をあらかじめしておき、最低限の電子線照射でSEM観察を行うことができます。

miXcroscopy™ For EPMA -システムの概要-

EPMAで元素分析(点分析)する位置を光学顕微鏡で設定するシステムです。
miXcroscopy™ For EPMAを利用することで、作業効率、EPMAの稼働効率が向上します。

miXcroscopy For EPMA システムの概要
対応機種
電子プローブマイクロアナライザ:JXA-8230JXA-8530F

miXcroscopy™ For EPMA -スムーズな分析位置登録-

反射電子組成像では区別のつきにくい試料でも、光学顕微鏡で偏光観察することにより、スムーズに分析位置を決めることができます。

試料:スライドガラス上の鉱物薄片
スライドガラス上の鉱物薄片 偏光顕微鏡像 倍率:50倍
偏光顕微鏡像 倍率:50倍
スライドガラス上の鉱物薄片 反射電子組成像 倍率:50倍
反射電子組成像 倍率:50倍

miXcroscopy™ For EPMA -正確・迅速に,光学顕微鏡の登録位置を分析-

●従来フロー

試料:鉱物薄片

●miXcroscopy™ For EPMAを利用したフロー

miXcroscopy™ For EPMAを利用することで視野探し・分析点登録は光学顕微鏡、 分析の実行はEPMAと役割を分けることができ、視野探しをEPMAで行う必要がなくなり、EPMAのマシンタイムを実際の分析に多く割り振ることができます。

仕様 SPEC

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