低温 ESR 測定を、より簡単かつ安定に。
液体ヘリウム温度可変装置「ES-13130HEVT/BU」は、ESR（電子スピン共鳴）測定において 2.5 ～ 420 K の広い温度範囲を実現する温度制御システムです。低温環境下でのスピンダイナミクス解析や半導体欠陥評価、磁性材料研究など、多様なアプリケーションに対応します。短時間での冷却と優れた温度安定性により、高効率かつ再現性の高い測定をサポートします。
特長
広い温度可変範囲
液体ヘリウムを用いることで、2.5 ～ 420 K の広範囲な温度制御が可能です。極低温から室温近傍まで、さまざまな ESR 測定条件に対応します。
温度可変範囲：2.5 ～ 420 K*
液体窒素使用時：80 ～ 420 K
* 4.2 K 以下の測定には別途真空ポンプが必要です。
優れた温度安定性
±0.5 K の高い温度安定性により、温度依存性の高い ESR 信号も安定して観測できます。
簡単セットアップ
測定準備にかかる組立時間は約 20 分。日常的な低温測定をスムーズに行えます。
高速冷却
室温から 4.2 K まで約 15 分で冷却可能。測定開始までの待機時間を大幅に短縮します。
紫外線照射装置との併用に対応
以下の紫外線照射照射装置と組み合わせて使用できます。
ES-13080UV2A
ES-13090UV04
関連製品
これによりUV照射下での ESR 測定に対応し、光励起状態や欠陥準位解析などの研究に活用できます。
構成
クライオスタット（先端ヒーター、温度センサーなどを含む）
トランスファーチューブ（デュワーアダプターを含む）
フローメーター
温度コントローラー
組立て備品および予備品
アプリケーション
シリコンのダングリングボンドによる ESR 信号
低温 ESR 測定により、シリコン中のダングリングボンド由来の信号を高感度に観測できます。温度制御による信号変化の評価は、半導体材料解析や界面評価に有効です。
