【販売終了】Serial Block-face SEM JSM-7200F・7800F / Gatan 3View®2XP
販売終了
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大電流で微細な電子プローブを長時間安定して得られるショットキー電界放出形走査電子顕微鏡内に3View®2XP（Gatan社製）を搭載することにより、試料の自動切削および自動画像取得が行えます。取得した画像を3D再構築することにより3Dでの微細構造解析することが可能になります。
特長
システムの概要
JSM-7200F・7800Fと3View®2XP (Gatan社製) の組み合わせで、広範囲の領域のスライス画像を連続して取得することができます。それによって数百μm領域の立体構築が行えます。立体構築をすることにより2次元画像ではわからなかった細胞の奥行き方向の構造も知ることができます。
操作
試料の切削と画像取得を自動で繰り返し行い、大量のスライス画像を取得できます。
得られたスライス画像は、ソフトウェアでスタック、調整し、立体構築します。
応用データ
◆上のボックス内の再生ボタンをクリックするとムービーが始まります。 (約2分) ◆
マウス脳 シナプス
セグメンテーションデータ
黄色領域 : シナプス小胞
緑色領域 : シナプス後肥厚部
赤色領域 : ポストシナプス
Sample : Courtesy of Professor Deniz Kirik and Lina Gefors, Bioimaging Center. Medical Faculty. Lund University.
Sweden
仕様・オプション
| JSM-7200F | JSM-7800F | |
|---|---|---|
| 分解能 | 1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV) | 0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV) |
| 加速電圧 | 0.5～30kV | 0.01～30kV |
| 倍率 | × 10～1,000,000 | ×25～1,000,000 |
| 3View®2XP | |
|---|---|
| 切削厚 | 15～200nm (バイオ系試料 25～50nm) |
| 切削速度 | 0.1～1.2mm / 秒 |
| ナイフの切削距離 | 1.2mm |
| ステージ駆動範囲 | X/Y: ±700μm Z: 600μm |
外観・仕様は改良のため予告なく変更することがあります。
ギャラリー
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