電子顕微鏡の試料作製用に使いやすくデザインされた試料（3mmφ）打ち抜き装置です。
小さな試料のカッティングに有効で、50μmの薄さのウエハーからディスクを切るのに最適です。
また、バルク試料から長さ5mmの円筒状に切り出します。
特長
セラミックスまたは、半導体物質のウエハーから完璧なTEM用ディスクが作られます。
バルク試料なら長さ5ｍｍまでの円筒を切り出すことができます。
正確な試料の位置決めに有効な光学顕微鏡およびX-Y位置決めテーブルがあります。
小孔、溝、くぼみ、その他の特別な形状をきることができます。
X-Yステージ付
仕様・オプション
| 超音波周波数 | 19kHz～42kHz |
|---|---|
| トランジューサー | ジルコンサン鉛／チタン酸鉛の圧電性結晶 |
| 打ち抜き径 | φ3mm |
| 打ち抜き厚さ | 50μm～5mm |
| 厚さ測定 | マイクロダイヤルゲージ |
| 試料位置決め | 60倍光学顕微鏡及びX-Yテーブル |
| 電源 | AC100V 50/60Hz |
| 寸法 | 195mm（幅）×235mm（奥行）×395mm（高さ） |
構成
| 超音波ディスクカッター | 1式 |
|---|---|
| 光学顕微鏡及びX-Y位置決めテーブル | 1式 |
| φ3mmカッティングツール | 1個 |
オプション
Model 601-0601：六角テーブル
Model 601－05220：XYステージ
その他、各種サイズのカッティングツールも準備されています。
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