TEM、SEMでのIn-Situ観察用試料ホルダーで、従来に無い高温加熱方式により動態をリアルタイムで観察可能です。
特長
0.001秒で1,200°Cまで加熱可能
TEM、STEM、SEMで観察可能
高温時の低ドリフト
仕様・オプション
| Aduro | 加熱・印加時の安定したＩｎ-Situ観察 正確な試料温度と電圧、電流制御 |
|---|---|
| 温度 | 室温から1,200°C(瞬時の温度変化が可能) |
| 傾斜 | 装置のポールピースおよび構成の依存 |
| Aduro E-chip | サイズ：4.0mm×5.8mm 厚さ：0.3mm |
| 観察領域 | 0.5mm×0.5mm |
| 所要電源 | AC 100V |
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