特長
電子顕微鏡用の試料を、50μm以下の均一な厚さに再現性良く研磨するシステムです。
軽量グラインダーが最大研磨圧を軽減し、試料損傷を抑制します。
試料送りねじの微小送りが出来るため、予圧によって試料の厚さを精密に制御可能。
試料マウント部と精密にフィットする大径研磨面を用いて、均一に薄い試料(5µmの精度)を作製可能。
オプションのラッピングキットは試料を粗研磨から鏡面研磨まで仕上げることが可能。
仕様・オプション
| 試料サイズ | 直径 9 mm 以下 |
|---|---|
| 本体 | 7.5 cm (D)×4.5 cm (H) |
| 梱包 | 30.5 cm (D)×25.4 cm (W)×4.5 cm (H) |
| 重量 | 1.3Kg |
| 電力 | 不要 |
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