SpiralTOF™を用いた低分子量化合物のMS/MS 測定例

MSTips　No.173

今回二種類の低分子量化合物に対して、JMS-S3000 “SpiralTOF” のTOF-TOFモード測定を行ったところ、低分子量化合物においても構造情報を反映した結果が得られましたので、それらについて報告します。

日本電子では、お客様に安心して製品をお使い頂くために、
様々なサポート体制でお客様をバックアップしております。お気軽にお問い合わせください。