格子像

lattice image

[目次：理論(電子の散乱／回折／結像)]

高分解能電子顕微鏡法を用いて、薄い結晶性の試料からの透過波と回折波を干渉させて得られる結晶の格子に対応する像。格子像(の強度変化)は、入射電子線の方向に投影した試料の静電ポテンシャル(投影ポテンシャル)の変化に正しく対応はしないが、結晶の周期性を正しく表している。対物レンズの球面収差と加速電圧によって決められる焦点はずしの条件(シェルツァー・フォーカス)で得られる像は、結晶の静電ポテンシャル（原子配列）を投影したものにかなりよく対応し、結晶構造像という。

HREM, which allows wave interference between transmitted and diffracted waves to be caused, enables us to obtain a lattice image of a thin crystalline specimen at an appropriate defocus of the objective lens. The lattice image (intensity distribution) does not always correspond to the electrostatic potential in the crystalline specimen projected along the direction of the incident electron beam (projected potential). However, the lattice image displays correctly the periodicity of a crystal. When the image is obtained at the defocus condition, which is determined by the spherical aberration of the objective lens and the accelerating voltage of the incident beam (Scherzer focus), it corresponds fairly well to the electrostatic potential (atomic arrangement) in the crystal. This image is called "crystal structure image."

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