透過電子顕微鏡 基本用語集

「透過電子顕微鏡 (TEM) 基本用語集」は、透過電子顕微鏡法にかかわる事項 (用語) を簡便に理解する一助になればという主旨で作成したものです。 TEMによる評価・分析の手法について、その基礎となる理論、装置、試料結晶に関する基礎知識と試料作製法、画像処理法など、基本的事項に関する用語 約800語を、最近の学問的発展を考慮して選びました。
用語の解説は、難しい表現を避け、誤解を招かないようにし、かゆいところに手が届くように努めました。TEM以外でも使う用語については、TEM分野に則して解説しました。
専門性の高い用語につきましては、造詣の深い先生方に執筆、校閲、データ提供などのご協力を頂きました。ご協力いただきました先生方には心より感謝申し上げます。より詳細な用語の理解には専門書および文献をご参照ください。
新用語の掲載や、理解を容易にするための図、写真の充実など、増補・改訂を継続して行っております。
本用語集が、ユーザーの皆様のTEMの理解とその効果的な利用の一助になれば幸いです。

監修

東北大学 名誉教授 田中 通義
日本電子 技術顧問

製作

日本電子株式会社

注) データなどの提供者の所属は、提供当時のものです。

追加・更新された用語 ADDED / UPDATED TERMS