サムピーク

sum peak

[目次：分光分析(EELS／EDS／電子構造)]

EDS分析では、試料から放出される特性X線を半導体検出器で検出し、X線のエネルギーに比例したパルス電圧を生じさせ、これを多チャンネル波高分析器で選別して測定するが、このとき、複数の特性X線がほぼ同時に検出器に入射すると、これらは別々のパルスとして認識することができない。その結果、試料からのスペクトルピークとは別に、複数のX線のエネルギーの和の位置にピークが現れる。これがサムピークであり、スペクトル解析の際には注意を要する。

In EDS analysis, characteristic X-rays emitted from a specimen are detected with a semiconductor detector. Pulse voltages that are proportional to the energies of the detected characteristic X-rays are generated, and then these voltages are measured with a multi-channel pulse-height analyzer. When two different characteristic X-rays almost simultaneously enter the detector, these X-rays cannot be recognized as separate pulses. Thus, an EDS spectrum exhibits a spectral peak at an energy position of the sum of energies of the two characteristic X-rays, together with spectral peaks due to characteristic X-rays of the specimen. The peak is called a "sum peak" and therefore, care must be taken for spectral analysis.

関連用語から探す