JMS-S3000 SpiralTOF™シリーズ ポリマー・材料・化学アプリケーションノートブック

  • 概要

2020年4月版

JMS-S3000 SpiralTOF(TM)シリーズ ポリマー・材料・化学アプリケーションノートブック

JEOL製超高分解能MALDI-TOFMS JMS-S3000 SpiralTOF™シリーズで測定されたデータに基づくアプリケーションノート・日本電子news記事・学術論文の中から、合成ポリマーの解析・材料解析・化学に関するものをまとめた冊子 (アプリケーションノートブック) です。

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目次

ハードウェア・ソフトウェア紹介 P1~

  • らせん状のイオン軌道を利用したMALDI-TOF/TOFの開発
    (佐藤 貴弥, 日本電子news 42, 27 – 30, 2010)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" らせん軌道イオン光学系によるマトリックス結晶状態の影響低減 (MS Tips No.206) 

ポリマー

Spiralモード・Linearモード P11~

  • スパイラルイオン軌道を用いた超高分解能MALDI-TOFMSによるポリマーの精密構造解析 
    (佐藤 浩昭, 日本電子news, 47, 8 – 14, 2015)
  • MALDI-TOF-MSによるポリマーキャラクタリゼーションの新展開
    (大谷 肇, 日本電子ニュース, 43, 1 – 6, 2011)
  • オンプレート分解法とタンデム飛行時間質量分析法によるポリエチレンテレフタレートの構造解析の検討 (MSTips No.311)
  • JMS-S3000 SpiralTOF™によるオンプレートアルカリ分解法とFraction base KMD法を組み合わせた高分子量 poly(3-hydroxybutyrate-co-3-hydroxyvalerate) 共重合ポリエステルの分析  (MSTips No.284)
  • JMS-S3000 SpiralTOF™によるオンプレートアルカリ分解法とFraction base KMD法を組み合わせた高分子量 Poly(3-hydroxybutyrate)の分析 (MSTips No.283)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™"と"Remainders of KM"プロット法を用いた多分散度の大きいポマーの組成マッピング (MSTips No.269)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™"による低分子量 ポリエチレンの分析 (MSTips No.235)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" によるアクリル系接着剤の分析
    ~Kendrick Mass Defect プロット法の適用~ (MSTips No.220)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" による非イオン系界面活性剤の分析
    ~Kendrick Mass Defect プロット法の適用~ (MSTips No.219)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" によるポリマーの構造解析
    ~Kendrick Mass Defect プロット法の適用~ (MSTips No.210)
  • コンベンショナルHPLCとMALDI-SpiralTOF™MSを用いたEO-POランダムコポリマーの分析 (MS Tips No.203)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" LinearTOFオプションを用いたPolystyreneの分析例  (MS Tips No.199)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いた合成ポリマーの分析例1 ~Polystyrene~ (MS Tips No.163)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いた合成ポリマーの分析例2
    ~Polymethyl methacrylate~ (MS Tips No.164)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いた合成ポリマーの分析例2
    ~Polyethylene Glycol~ (MS Tips No.165)
  • MALDI SpiralTOF high-resolution mass spectrometry and Kendrick mass defect analysis applied to the characterization of poly(ethylene-co-vinyl acetate) copolymers
    (Fouquet, T., Nakamura, S. & Sato, H., Rapid Commun. Mass Spectrom. 30, 973 – 981, 2016) 

TOF-TOF (MS/MS) モード P67~

  • JMS-S3000 "SpiralTOF™"とTOF-TOFオプションを用いた末端基の異なるポリエチレンオキシドの開裂経路の可視化 (MSTips No.279)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™"とTOF-TOFオプションを用いたポリマーの構造解析:"Remainders of KM" プロット法を用いた開裂経路の可視化 (MSTips No.270)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いた合成ポリマー構造解析例1 (Poly Propylene Glycol; PPG)  (MS Tips No.171)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いた合成ポリマー構造解析例2 (Polymethyl methacrylate)  (MS Tips No.172)

添加剤・顔料・低分子化合物 P79~

  • レーザー脱離イオン化法,電界脱離イオン化法による有機顔料の測定例 (MSTips No.258)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™"とTOF-TOFオプションを用いた高分子材料に含まれる添加剤の高エネルギー衝突誘起解離による構造解析 (MSTips No.254)
  • SpiralTOF™を用いた総合感冒薬の薬効成分分析 (MSTips No.241)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™"による底質試料の分析
    ~Kendrick Mass Defectプロット法の適用~ (MSTips No.209)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いた合成高分子中添加剤の定性分析 (MS Tips No.205) 
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" TOF-TOFオプションを用いたフラーレンの測定例 (MS Tips No.177)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いた低分子量化合物のMS/MS 測定例 (MS Tips No.173)
  • JMS-S3000 "SpiralTOF™"を用いた低分子量有機化合物の精密質量測定 (MS Tips No.168)

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