JMS-S3000 SpiralTOF™シリーズ 高分子材料アプリケーションノートブック
2024年8月版
2024年8月版
JEOL製超高分解能MALDI-TOFMS JMS-S3000 SpiralTOF™シリーズで測定されたデータに基づくアプリケーションノート・日本電子news記事・学術論文の中から、高分子材料の解析に関するものをまとめた冊子 (アプリケーションノートブック) です。
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目次
ハードウェア・ソフトウェア紹介 P1〜
らせん状のイオン軌道を利用したMALDI-TOF/TOFの開発
(佐藤 貴弥, 日本電子news 42, 27 – 30, 2010)ピーク形状に着目した機械学習による高分解能MALDI-TOFMSのマススペクトルからのピーク抽出方法開発と合成高分子分析への応用
(MSTips No. 352)JMS-S3000 “SpiralTOF™” らせん軌道イオン光学系によるマトリックス結晶状態の影響低減 (MSTips No. 206)
ポリマー・オリゴマー P15〜
JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus 3.0"および"msRepeatFinder"を用いた EO-POコポリマーのEO/PO組成比率分析 (MSTips No. 471)
高分解能MALDI-TOFMSとNMRを用いたEO-POコポリマーの構造解析 (MSTips No. 423)
JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus2.0”および”msRepeatFinder”を用いた紫外線照射により劣化したポリエチレンテレフタレートの差異解析
(MSTips No. 422)JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus 2.0"を用いた結晶性の異なるポリエチレンテレフタレートの構造解析 (MSTips No. 407)
MALDI-TOFMSとGC-TOFMSを用いたポリメタクリル酸メチルの末端基解析 (MSTips No. 404)
JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus 2.0"を用いたmPEG5K-Phosphateの分析 (MSTips No. 402)
JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus2.0"および"msRepeatFinder V6"を用いたEO-POコポリマーの組成解析 (MSTips No. 399)
精密質量を使用したポリマーの末端基の元素組成推定 (MSTips No. 357)
JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus” を用いた負イオンモードでのアニオン系界面活性剤の検出および構造解析 (MSTips No. 333)
高分解能MALDI-TOFMSおよび熱分解GC-QMSを用いたポリメタクリル酸メチルの紫外線照射による酸化劣化解析 (MSTips No. 324)
高分解能MALDI-TOFMSおよび熱分解GC-QMSを用いたポリスチレンの紫外線照射による酸化劣化解析 (MSTips No. 322)
オンプレート分解法とタンデム飛行時間質量分析法によるポリエチレンテレフタレートの構造解析の検討 (MSTips No. 311)
JMS-S3000 SpiralTOF™によるオンプレートアルカリ分解法とFraction base KMD法を組み合わせた高分子量 poly(3-hydroxybutyrate-co-3-hydroxyvalerate) 共重合ポリエステルの分析 (MSTips No. 284)
JMS-S3000 SpiralTOF™によるオンプレートアルカリ分解法とFraction base KMD法を組み合わせた高分子量 Poly(3-hydroxybutyrate)の分析 (MSTips No. 283)
JMS-S3000 “SpiralTOF™”とTOF-TOFオプションを用いた末端基の異なるポリエチレンオキシドの開裂経路の可視化 (MSTips No. 279)
JMS-S3000 “SpiralTOF™”とTOF-TOFオプションを用いたポリマーの構造解析：“Remainders of KM” プロット法を用いた開裂経路の可視化
(MSTips No. 270)JMS-S3000 “SpiralTOF™”と“Remainders of KM”プロット法を用いた多分散度の大きいポマーの組成マッピング (MSTips No. 269)
JMS-S3000 “SpiralTOF™”による低分子量 ポリエチレンの分析 (MSTips No. 235)
JMS-S3000 “SpiralTOF™” によるアクリル系接着剤の分析
～Kendrick Mass Defect プロット法の適用～ (MSTips No. 220)JMS-S3000 “SpiralTOF™” による非イオン系界面活性剤の分析
～Kendrick Mass Defect プロット法の適用～ (MSTips No. 219)JMS-S3000 “SpiralTOF™” によるポリマーの構造解析
～Kendrick Mass Defect プロット法の適用～ (MSTips No. 210)コンベンショナルHPLCとMALDI-SpiralTOF™MSを用いたEO-POランダムコポリマーの分析 (MSTips No. 203)
JMS-S3000 “SpiralTOF™” LinearTOFオプションを用いたPolystyreneの分析例 (MSTips No. 199)
JMS-S3000 “SpiralTOF™” を用いた合成ポリマーの分析例1 ～Polystyrene～ (MSTips No. 163)
JMS-S3000 “SpiralTOF™” を用いた合成ポリマーの分析例2 ～Polymethyl methacrylate～ (MSTips No. 164)
JMS-S3000 “SpiralTOF™” を用いた合成ポリマーの分析例3 ～Polyethylene Glycol～ (MSTips No. 165)
スパイラルイオン軌道を用いた超高分解能MALDI-TOFMSによるポリマーの精密構造解析
（佐藤 浩昭, 日本電子news, 47, 8 – 14, 2015）MALDI－TOF－MSによるポリマーキャラクタリゼーションの新展開
（大谷 肇, 日本電子ニュース, 43, 1 – 6, 2011）MALDI SpiralTOF high-resolution mass spectrometry and Kendrick mass defect analysis applied to the characterization of poly(ethylene-co-vinyl acetate) copolymers (Fouquet, T., Nakamura, S. & Sato, H., Rapid Commun. Mass Spectrom. 30, 973 – 981, 2016)
添加剤・顔料 P111〜
レーザー脱離イオン化法，電界脱離イオン化法による有機顔料の測定例 (MSTips No. 258)
JMS-S3000 “SpiralTOF™”とTOF-TOFオプションを用いた高分子材料に含まれる添加剤の高エネルギー衝突誘起解離による構造解析
(MSTips No. 254)JMS-S3000 “SpiralTOF™” を用いた合成高分子中添加剤の定性分析 (MSTips No. 205)
