走査電子顕微鏡(SEM)基礎講座（西日本SC）
公開日： 2019/01/07
この度「走査電子顕微鏡(SEM)基礎講座」を開催することになりました。つきましては、時節柄大変ご多忙とは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでご案内申し上げます。
主催:日本電子株式会社
開催日/会場
- 日程:
2019年2月22日（金） 10:00～16:00 (受付開始9:45～) - 会場:
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
〒532-0011
大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1F
TEL: 06-6305-0121
地図 - 交通アクセス:
JR「新大阪」駅 正面口 徒歩5分
地下鉄御堂筋線「新大阪」駅南口（7番出口） 徒歩2分
お申し込み
- 対象者:
タングステンタイプの走査電子顕微鏡をご利用のお客様 - 参加費:
無料 - 定員:
5名 (先着順) - お申し込み方法:
※定員となりました。ご応募ありがとうございました。
プログラム
- 09:45
- 受付
- 10:00
-
講義 SEMの上手な使い方
- フォーカスと非点収差と作動距離 (WD)
- コントラスト、ブライトネス、対物絞り調整
- 二次電子像と反射電子像の観察方法
- チャージアップと金属コーティング
- 11:00
-
講義 EDSの上手な使い方
- 特性X線と特性X線の広がり
- 定性分析、定量分析
- 点分析、線分析、マッピング（面分析）
- 加速電圧と特性X線
- スポットサイズと特性X線
- 11:50
- 休憩
- 13:00
-
実習 SEM、EDSの実機を使った実習
※実習装置※もしくは - 16:00
- 終了
※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
※ 昼食は近隣の飲食店をご利用下さい。
※ 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用下さい。
※ お申し込みから1週間経過後、弊社より返信が届かない場合、恐れ入りますがお問合せ先までご連絡ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。
※ 昼食は近隣の飲食店をご利用下さい。
※ 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用下さい。
※ お申し込みから1週間経過後、弊社より返信が届かない場合、恐れ入りますがお問合せ先までご連絡ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。
お問合せ
- 日本電子株式会社 大阪支店
科学・計測機器営業本部 大阪SIグループ
川端(かわばた)
TEL:06-6304-3942・FAX:06-6304-7377
