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樹脂も、液体も、定量分析にはXRF!自動厚さ補正機能を活かしたスマートFP法の分析事例

公開日: 2019/03/26

XRFは非破壊・迅速・簡便な元素分析法として知られています。しかしその落とし穴として、厚みの薄い試料を測定すると定量値にずれが生じ、特にその影響は試料が樹脂や水溶液などのソフトマテリアルである場合に起こりやすいことが知られています。

弊社のXRF: JSX-1000Sは"自動厚さ補正機能"を有しており、これにより試料厚みを気にせずにFP法で定量分析を行うことができます。今回の発表では、まずXRFによる測定を行う上で必要な試料厚み(無限厚)についてお話しした後、"自動厚さ補正機能"を活かした分析事例をご紹介します。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2019年6月28日(金) 16:00~16:30

関連製品

参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員: 200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e164e1e74ebb103ebbeb2684f743eb688

    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 588KB)をご覧ください。
    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    同業者の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560

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