エネルギー分散形X線分析装置(EDS)基礎講座（西日本SC）
公開日： 2019/05/22
この度、走査電子顕微鏡（SEM）で装着率の高い「エネルギー分散形X線分析装置（EDS）基礎講座」を開催することになりました。
つきましては、時節柄大変ご多忙とは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでご案内申し上げます。
主催:日本電子株式会社
開催日/会場
- 日程:
2019年6月21日（金） 10:00～16:00 (受付開始 9:45～) - 会場:
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
〒532-0011
大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1F
TEL: 06-6305-0121
地図 - 交通アクセス:
JR「新大阪」駅 正面口 徒歩5分
地下鉄御堂筋線「新大阪」駅南口（7番出口） 徒歩2分
お申し込み
- 対象者:
走査電子顕微鏡をご利用で弊社EDS（JEDシリーズ）をお使いのお客様 - 参加費:
無料 - 定員:
5名 (先着順) - お申し込み方法:
※定員となりました。ご応募ありがとうございました。
プログラム
- 09:45
- 受付
- 10:00
- 講義 EDSの原理と上手な使い方
- EDSの原理
- 特性Ｘ線と特性Ｘ線の広がり
- 定性分析、定量分析
- 点分析、線分析、マッピング（面分析）
- 加速電圧と特性Ｘ線
- スポットサイズと特性Ｘ線
- EDS測定における留意点（試料前処理、測定条件、等）
- JEDを使った便利な測定法
- 11:50
- 休憩
- 13:00
- 実習 SEM、EDSの実機を使った実習
※実習装置 (予定)
JSM-IT200(LA) InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
もしくは
JSM-IT500LA InTouchScope™ 走査電子顕微鏡 - 16:00
- 終了
※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
※ 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用下さい。
※ お申し込みから1週間経過後、弊社より返信が届かない場合、恐れ入りますがお問合せ先までご連絡ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。
※ 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用下さい。
※ お申し込みから1週間経過後、弊社より返信が届かない場合、恐れ入りますがお問合せ先までご連絡ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。
お問合せ
日本電子株式会社 大阪支店
科学・計測機器営業本部 大阪SIグループ
川端(かわばた)
TEL:06-6304-3942・FAX:06-6304-7377
