電子機器部品の構造・欠陥解析 ～SIM像による三次元観察の応用事例～
公開日： 2020/03/10
シングルビームFIBのJIB-4000PLUSはSIM像による三次元観察が行えます。
SIM像のチャンネリングコントラストが鮮明に観察できる特徴から、結晶性試料などの三次元解析に有効な測定法です。
IRカットフィルター上の欠陥で三次元観察を実施し、欠陥の発生原因を解析しました。
また、セラミックコンデンサーの三次元観察を行い、内部にあるボイドを可視化するとともにボイドの分布とその割合を解析したので、その詳細を報告します。
※本セミナーは、SEMユーザーズミーティング2019で発表した内容の再演になります。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2020年月4月17日(金) 16:00～16:30
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参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
200名
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お申し込み方法
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※WEBセミナー開催当日の午前中までにご参加登録いただいた方のみに事前配布資料をお送りします。それ以降にご参加登録いただいた方はセミナー終了後の配布となりますのでご了承ください。
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お問合せ
- 日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
担当: 廣川 (ひろかわ)
TEL: 03-6262-3560
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