冷却CPによる断面試料作製 ～熱に弱い試料の応用事例～
公開日： 2020/06/08
CP（CROSS SECTION POLISHER™）はアルゴンイオンビームを用いた断面作製装置で、SEM観察では欠かすことのできない前処理装置です。
対象試料は、金属や高分子などの単一材料からセラミックスのような複合材、めっきや食品包装材のような積層材料まで様々です。
CPはスパッタ現象を利用して試料を加工するため熱が発生し、試料によってはダメージが生じることがあります。
そのため、高分子のような融点の低い材料は冷却保持して加工可能な冷却CPが有効です。
本セミナーでは、冷却CPの特長と前処理のポイントを説明し、SEM像を用いて冷却CPの効果について紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2020年6月26日 (金) 16:00～16:30
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参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
200名
※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
お申し込み方法
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※WEBセミナー開催当日の午前中までにご参加登録いただいた方のみに事前配布資料をお送りします。それ以降にご参加登録いただいた方はセミナー終了後の配布となりますのでご了承ください。
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お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部
廣川 (ひろかわ)
jeol_event[at]jeol.co.jp
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