日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ FE-SEM / FIB-SEM / EDS / EBSD「ジョイントWEBセミナー」 2020
公開日： 2020/08/07
恒例となりましたジョイントセミナーを今年はWEB上で「WEBセミナー」として開催する運びとなりました。
今回は1日目に高分解能FE-SEM / 高感度ウィンドウレスEDS / CMOS型EBSDを用いた最新の観察・分析事例を、2日目にFIB-SEM / 大面積EDS / CMOS型EBSDを用いた最新の3D解析事例をご紹介します。
WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
共催：日本電子株式会社、オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2020年9月10日 (木) 15:00～16:40
2020年9月11日 (金) 15:00～16:40 - 詳細:
こちらをご覧ください
関連製品
- 走査電子顕微鏡 (SEM)
- 集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
- 走査電子顕微鏡周辺機器（EDS、EBSD）
参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
各200名
※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
お申し込み方法
- 2020年9月10日 (木) 15:00～16:40
- 2020年9月11日 (金) 15:00～16:40
※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 955KB)をご覧ください。
※WEBセミナー開催当日の午前中までにご参加登録いただいた方のみに事前配布資料をお送りします。それ以降にご参加登録いただいた方はセミナー終了後の配布となりますのでご了承ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 WEBセミナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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