JEM-ARM200Fと分割検出器を用いた解析事例の紹介
公開日： 2021/06/24
JEM-ARM200Fと分割検出器を用いた材料分野での解析事例の紹介となります。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
"このウェビナーから学べること"
- 分割型検出器を用いたアプリケーション事例の紹介
"参加いただきたいお客様"
- JEOLのTEMを使用しているお客様
- 新規にJEOLのTEMの購入検討しているお客様
- 材料系科学者のお客様
講演者:
安原 聡
日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
開催日/詳細
- 2021年8月3日 (火) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
- JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡
- SAAF Octa 分割型検出器
- JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置
参加費
- 無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
