三啓・日本電子コラボセミナー 電子部品の広域観察と評価 ～ 前処理研磨からSEM評価まで ～
公開日： 2022/01/07
今回は電子部品の広範囲観察と評価にテーマを絞り、株式会社三啓の研磨装置と日本電子株式会社のSEMを利用し、鮮明で効果的な観察をするための前処理からSEMによる撮影、さらにモンタージュ写真の合成、元素分析による評価までの一連のソリューションをご紹介いたします。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
共催: 株式会社三啓 、日本電子株式会社
開催日/詳細
- 2022年2月8日 (火) 16:00～17:00
各講演：30分 (25分講演、質疑応答5分) - 関連リンク
2022年3月3日 (木) 16:00～17:00
各講演：30分 (25分講演、質疑応答5分)
詳しくはこちら
講演内容は、両日とも同じです。
プログラム
| 題名 / 詳細 | 講演者 | |
|---|---|---|
| 講演1 | 走査電子顕微鏡による観察・分析のためのサンプル研磨方法 電子顕微鏡による観察と分析は対象となるサンプルの試料作成の良否によって大きく結果が異なってしまいます。 サンプル本来の評価をする為には、最適な試料作成が不可欠です。 今回のセミナーではフランスPRESI社の最新試料作成機器と豊富な消耗品を使用して平坦で変質層の無い電子顕微鏡の観察と分析に適したサンプルの作成方法をご説明いたします。 |
 関 一紀 株式会社三啓 試料作製サポート部 ラボサポート課 |
| 講演2 | 卓上SEM JCM-7000で機械研磨面を見る 走査電子顕微鏡 (SEM) で試料の内部構造を観察する前処理法の一つとして、機械研磨による断面作製があります。 JEOL 卓上SEM JCM-7000にはZeromag機能およびモンタージュ機能が搭載されており、機械研磨断面の広領域評価に有効です。さらに、EDS (エネルギー分散型X線分光器) を使うと、興味のある場所の元素有無および元素分布を確認することができます。 今回はJCM-7000を使って、電子部品断面を迅速に解析する手法を紹介します。 【関連製品】 |
中嶌 香織 日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 SEMグループ 第1チーム |
参加費
- 無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
