ルーティンワークはJSM-IT510におまかせ ～Simple SEMで変わるSEMの観察スタイル～
公開日： 2022/06/10
走査電子顕微鏡 (SEM) は、今や研究開発だけでなく、品質保証や製品検査で幅広く使われています。これらの現場では、決められた条件で観察を繰り返すことが多く、作業の効率化が求められてきました。
JSM-IT510は、連続自動撮影機能 (Simple SEM) により、視野を設定するだけで観察作業をSEMに"おまかせ"できます。本講演では、Simple SEMの機能と実際の活用事例についてご紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
"このウェビナーから学べること"
- 連続自動撮影機能 (Simple SEM) とその活用事例
"参加いただきたいお客様"
- SEMの更新・導入を検討中のお客様
- SEM観察を簡便に行いたいお客様
- 品質保証、製品検査を担当されているお客様
講演者
小島 洋平
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMグループ
第2チーム
開催日/詳細
- 2022年7月15日 (金) 16:00～17:00
- 講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
- 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
- 無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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