バルク観察から一歩踏み込んで。でも、試料損失はしたくない！～岩石試料の総合非破壊分析ワークフローのご紹介～

岩石試料の研究において、SEMやEPMA (Electron Probe Micro Analyzer) を用いた組織観察・分析は一般的な解析手法の一つとなってきました。
しかしながら、不均質かつ非平衡な組織を有するような複雑な岩石試料の場合、SEMやEPMAによる測定の他、透過電子顕微鏡 (TEM) を用いた、より詳細な微細組織観察や相同定が不可欠となりつつあります。
TEMで観察・分析を行うためには、TEM用の薄膜試料を別途作製する必要がありますが、従来の薄膜試料作製は熟練の技術を要し、ハードルの高いものでした。
ところが、近年、バルク試料の特定箇所から薄膜試料を加工・作製できる集束イオンビーム装置 (FIB) が普及し、岩石・鉱物試料にも応用可能です。
本セミナーでは、EPMA分析～FIBによる薄膜試料作製～TEM観察・分析の一連のワークフローを示し、岩石試料のマクロ～ミクロ・スケールでの観察・分析の総合ソリューションをご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

• 岩石試料のマクロ～ミクロ・スケールでの観察・分析の総合ソリューション
• バルク試料～TEM用薄膜試料作製の流れ
• TEM観察・分析向きの視野選択のポイント

"参加いただきたいお客様"

• 岩石・鉱物学を専門とされる方
• TEMの薄膜試料作製にお困りの方
• TEMに興味はあるものの、一歩が踏み出せない方

講演者

掛札 真由

EM事業ユニット
EMアプリケーション部