JEM-F200 多機能電子顕微鏡

JEM-F200は、空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO₂削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。

特長

動画紹介

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◆ JEM-F200 多機能電子顕微鏡の特徴、機能についてご紹介しています。

高加速から低加速まで高分解能TEM/STEM観察

JEM-F200は高安定、高輝度、高エネルギー分解能（＜0.33 eV) を保証する冷陰極形電界放出形電子銃を用いることで光源由来の色収差を低減することにより高分解能での観察に有効です。
また、JEOLが積み重ねて追求してきたノウハウを設計に反映し、機械的・電気的な安定性が大きく向上したことにより、ドリフトの少ない撮像が可能になりました。

ハイスループット高精度EDS分析

JEM-F200は高い分析感度を有する大口径 (100 mm²) シリコンドリフト検出器 (SDD) を二本同時に搭載することができます (オプション)。
さらなる高感度化により、より短時間でダメージを抑えたEDS分析を実現します。また、EDS マッピング収集時のライブSTEM 像をそのままドリフト補正用画像に用いる高速ロスレス・ドリフト補正により、無駄のない迅速な測定を実現することで、EDS マッピング時の電子線による試料ダメージを軽減します (オプション) 。

高いエネルギー分解能でのEELS分析

JEM-F200は高いエネルギー分解能（＜0.33 eV）を保証する冷陰極形電界放出形電子銃とEELS (オプション) を組み合わせることで、ショットキー電界放出形電子銃よりも詳細な化学結合状態分析を実現します。

初心者でもストレスフリーな簡単操作　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

JEM-F200は直感性を重視したユーザーインターフェースを搭載し、TEMやSTEMにおける自動機能も充実させ、初心者でも簡単に操作ができます。
また、初心者ユーザーでも気軽に試料ホルダーの出し入れができるようにするためSPECPORTER™を搭載し、試料ホルダーを所定位置にセットすることにより、スイッチ一つで安全なホルダーの挿入・取り出しを提供します。
さらに、試料ステージはピエゾ駆動機構を用いることなくピコメートルオーダーのステップで駆動可能なPico stage drive を搭載しており、試料メッシュ全体の視野から、原子像オーダーの視野まで、幅広いダイナミックレンジの視野移動が可能です。

自動機能

自動ゲイン&オフセット → 自動フォーカス → 自動非点補正

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FIBによる試料作製から検鏡までをシームレスに実現

二軸傾斜カートリッジ (オプション) と専用TEM ホルダー (オプション) によりTEM ⇔ FIBのリンクを容易にします。このカートリッジは専用のTEM試料ホルダーにワンタッチで装着でき、試料作製後にTEMグリッドを直接取り扱う必要がなくなります。

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)

サステナブルな社会に対応した透過電子顕微鏡

JEM-F200は透過電子顕微鏡として初めてECO モードを標準搭載しました。
このECO モードは、装置を使用しない期間、最低限のエネルギー消費で装置を良好に維持し、消費エネルギーを節約するシステムです。装置をECO モード状態にすることでエネルギー消費量を装置使用時の約1/5 に抑えることができ、サステナブルな社会に貢献します。
スケジューリング機能も有しており、指定の日時にECO モードから使用可能な状態に復帰させることができます。