快適なEBSD測定を行うためのSEMの選び方
公開日： 2022/10/05
更新日： 2022/12/14
知りたい情報に対して分析装置が適切であることは、測定を容易にし、データの質を高めることに繋がります。
後方散乱電子回折(EBSD)測定においても同様であり、どの走査電子顕微鏡(SEM)で測定するかが非常に重要になります。
今回は各種SEMの特長と得られるEBSD測定データの実例をご紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
EBSD測定に適したSEMの選択
参加いただきたいお客様
EBSD測定されているユーザー
SEM/EBSDの導入を検討されているお客様
講演者
河野林太郎
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMグループ
第3チーム
開催日/詳細
2022年11月4日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
その他関連製品
JSM-7800FPRIME ショットキ―電界放出形走査電子顕微鏡
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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